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McSEIS-SXW高分辨率面波仪
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更新时间:2016-07-28  |  阅读:715

详情介绍

McSEIS-SXW高分辨率面波仪

技术参数:

通道数:24+AUX1

输入阻抗:20KΩ∥0.05μF

增益:12、30和48dB

频率范围:2 - 4600Hz

A/D分辨率:24位

采样率:33.3、50、100、200、500、1000、2000、4000μs

预触发:0, 128字

存储长度:1K、2K、4K、8K、16K

触发输入:锤击开关,地震检波器

触发电平:100 - 1000mV,步幅100mV

CPU:ULV In Celeron处理器(400MHz)

操作系统:Window XP专业版

系统内存:256MB

显示:10.4英寸 TFT 彩色 LCD 800x600

硬盘:80GB

McSEIS-SXW高分辨率面波仪

数据格式:SEG-2

接口:USB2.0×3,键盘

电源要求:12VDC(10.5~13.5V),2.0A(标准),4.0A(较大)

操作温度:0~45℃

尺寸:330(W)x280(D)x220(H)mm

重量:8kg

 

功能:多道瞬态面波勘探

特点:高分辨率、仪器

 

详细介绍

McSEIS-SXW采用12个或24个地震检波器接收由人工震源激发(如大锤)的表面波,可以很方便地对地层进行勘探,而不必采用大型震源(如炸yao、振荡器等)。使用4.5Hz地震检波器,有效勘探深度约20m。

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